Traité des matériaux - Volume 3 - Caractérisation expérimentale des matériaux II
Analyse par rayons X, électrons et neutrons
Jean-Luc Martin, Amand George - Collection Traité des matériaux
Résumé
Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.
L'auteur - Jean-Luc Martin
Jean-Luc Martin est ingénieur des Mines de Paris, titulaire d'un Master of Science in Physical Metallurgy de l'Université de Floride et d'un doctorat ès sciences physique de l'Université de Paris-Nord. Il a été chercheur à l'Office national d'études et de recherches aérospatiales à Paris, maître de recherches au CNRS à Toulouse. Ses recherches consistent en l'étude des propriétés mécaniques de divers matériaux en termes de microstructures de défauts, à l'aide de techniques expérimentales comme la microscopie électronique à transmission et à balayage et les essais mécaniques. Les modèles s'appuient sur la théorie des dislocations. Jean-Luc Martin a été secrétaire de la Société suisse de Physique et il est membre du comité scientifique de l'International Conference on the Strength of Materials.
L'auteur - Amand George
Amand George a obtenu le diplôme d'ingénieur civil des Mines de Saint-Etienne en 1969. Après un diplôme d'études approfondies en 1970, il a soutenu une thèse de docteur-ingénieur en 1972 puis une thèse d'état en 1977 à l'Institut national polytechnique de Lorraine. Ses travaux sur la déformation plastique des composés III-V, sur les réactions dislocations-joints de grains ou sur la transition fragile-ductile dans le silicum reposent largement sur l'observation des défauts cristallins par topographie aux rayons X, notamment avec le rayonnement synchroton et par microscopie électronique en transmission.
Sommaire
- Généralités sur les interactions rayonnement-matière
- Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux
- Propagation d'ondes dans les cristaux
- Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X
- Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X
- Topographie aux rayons X
- Microscope électronique à transmission
- Informations fournies par le microscope électronique à transmission
- Microscope électronique à balayage
- Microanalyse par faisceaux d'électrons
- Diffusion et diffraction des neutrons
- Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique
- Annexes
- Liste des symboles
- Index
Caractéristiques techniques
| PAPIER | |
| Éditeur(s) | Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (PPUR) |
| Auteur(s) | Jean-Luc Martin, Amand George |
| Collection | Traité des matériaux |
| Parution | 01/12/1997 |
| Nb. de pages | 374 |
| Format | 16 x 24 |
| Couverture | Relié |
| Poids | 795g |
| Intérieur | Noir et Blanc |
| EAN13 | 9782880743642 |
| ISBN13 | 978-2-88074-364-2 |
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