Runs and scans with applications
N. Balakrishnan, Markos V Koutras
454 pages, parution le 17/12/2001
Résumé
This book presents both the theoretical as well as the
applied aspects of runs and patterns, and illustrates
through various applications from science and engineering
their important role in the field of reliability analysis.
This hot topic addresses both classical problems (such as
sooner and later waiting time) and current problems (such
as consecutive systems, start-up demonstration testing in
life-testing experiments, learning and memory models, and
"match" in genetic codes).
Table of Contents
- Preface.
- Introduction and Historical Remarks.
- Waiting for the First Run Occurrence.
- Applications.
- Waiting for Multiple Run Occurrences.
- Number of Run Occurrences.
- Sooner/Later Run Occurrences.
- Multivariate Run-Related Distributions.
- Applications.
- Waiting for the First Scan.
- Waiting for Multiple Scans.
- Number of Scan Occurrences.
- Applications.
- Bibliography.
L'auteur - N. Balakrishnan
Editor; professor in the department of mathematics and statistics at Mc Master university, Hamilton, Ontario, Canada.
Caractéristiques techniques
| PAPIER | |
| Éditeur(s) | Wiley |
| Auteur(s) | N. Balakrishnan, Markos V Koutras |
| Parution | 17/12/2001 |
| Nb. de pages | 454 |
| Format | 16 x 24 |
| Couverture | Relié |
| Poids | 790g |
| Intérieur | Noir et Blanc |
| EAN13 | 9780471248927 |
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