Microscopie électronique à balayage et microanalyses
Ecole d'été de Saint-Martin d'Hères, 2006 publié par Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microanalyses
François Brisset, Monique Repoux, GN-MEBA
Résumé
La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôle sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc.
Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA).
Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine.
L'auteur - François Brisset
Autres livres de François Brisset
L'auteur - Monique Repoux
Autres livres de Monique Repoux
L'auteur - GN-MEBA
Ecole d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage
Sommaire
- Les interactions électron-matière
- Le rayonnement X caractéristique, le rayonnement de freinage
- Les canons à électrons en MEB
- Les éléments de l'optique électronique
- Les techniques du vide
- Les détecteurs utilisés dans le MEB
- La formation et l'optimisation de l'image en MEB
- Guide d'utilisation pratique du MEB
- La microscopie à pression contrôlée
- La microscopie à pression contrôlée - Applications
- Le spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS)
- L'analyse EDS
- Les cartographies X EDS
- Les aspects technologiques de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS)
- Les spectrométries EDS et WDS : traitement des spectres
- Les méthodes de quantification en microanalyse X
- La microanalyse quantitative en WDS des éléments très légers
- Les statistiques : précision et limites de détection en microanalyse
- L'analyse d'échantillons stratifiés
- La cristallographie appliquée à l'EBSD
- La cristallographie appliquée à l'EBSD
- L'EBSD : historique, principe et applications
- L'analyse EBSD
- La simulation de Monte Carlo
- Les échantillons isolants en MEB et en microanalyse X
- Les matériaux isolants
- La métallisation
- Les échantillons biologiques - Aperçu des techniques de préparation
- Les échantillons biologiques
- Reconstruction 3D de surfaces rugueuses
- Imagerie 3D
- Image MEB : du traitement numérique à l'analyse quantitative
- Le MEB STEM
- Les essais mécaniques in situ
- La maintenance et le contrôle du MEB et de la microanalyse X
- L'assurance qualité et la normalisation
- La place du MEB dans les techniques expérimentales
- Une introduction au FIB
- Une introduction à la MET
- La microanalyse X sur échantillons minces
- Une introduction à la cathodoluminescence
- Une introduction à la spectrométrie Raman
Caractéristiques techniques
| PAPIER | |
| Éditeur(s) | EDP Sciences |
| Auteur(s) | François Brisset, Monique Repoux, GN-MEBA |
| Parution | 15/01/2009 |
| Nb. de pages | 892 |
| Format | 17 x 25 |
| Couverture | Broché |
| Poids | 1790g |
| Intérieur | Quadri |
| EAN13 | 9782759800827 |
| ISBN13 | 978-2-7598-0082-7 |
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