Electronic Devices and Circuits
Test Yourself
Collectif d'auteurs, Eric Donkor, Shakib M. Saria
Résumé
Test Yourself before your professor does and immediately learn what topics you need to study to improve your test score.
Don't take a test until you've used the sample tests in TEST YOURSELF to discover your strengths and weaknesses!
This book is part of a unique series of , diagnostic self-test books that cover all the major areas of the curriculum including mathematics, science, computers, engineering, social science, business, and the humanities.
Contents
- Diode Circuits
- Bipolar Junction Transistor Biasing Circuits
- Field Effects Transistor Biasing Circuits
- BJT Single-Stage Amplifiers
- Compound Configurations
- Power Amplifiers
- Operational Amplifiers
L'auteur - Collectif d'auteurs
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Caractéristiques techniques
| PAPIER | |
| Éditeur(s) | NTC Learning Works |
| Auteur(s) | Collectif d'auteurs, Eric Donkor, Shakib M. Saria |
| Parution | 01/01/1998 |
| Nb. de pages | 146 |
| Format | 21,5 x 27,7 |
| Couverture | Broché |
| Poids | 339g |
| Intérieur | Noir et Blanc |
| EAN13 | 9780844223551 |
| ISBN13 | 978-0-8442-2355-1 |
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