Caractérisation microstructurale des matériaux

Analyse par rayonnements X et électronique

Claude Esnouf - Collection Metis Lyon Tech

580 pages, parution le 01/09/2011

Ajouter à une liste

Indisponible

Résumé

Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.

Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

L'auteur - Claude Esnouf

Claude Esnouf est professeur émérite à l'Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSAL). Ingénieur et licencié en sciences physiques, il a enseigné au premier cycle et au département de spécialité Sciences et Génie de Matériaux de l'INSAL l'électromagnétisme, l'optique ondulatoire et la caractérisation des matériaux. Docteur de l'Université de Lyon, il a mené de nombreuses recherches en science des matériaux par le biais de l'analyse structurale. Il s'est spécialisé dans les techniques de microscopie électronique qu'il a largement contribué à développer.

Autres livres de Claude Esnouf

Physique - Cristallographie et diffraction

Découvrir tous les livres de Claude Esnouf

Sommaire

Éléments de cristallographie
Diffraction par les cristaux
Radiocristallographie X
Diffraction par les rayonnements corpusculaires
Imagerie électronique
Spectroscopies x et électronique
Réseaux et groupes à deux dimensions
Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
Coefficient de Debye-Waller
Rappels sur la structure électronique d'un atome
Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel
Facteur de forme et géométrie du cristal
Relation facteur de diffusion électronique et potentiel
Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa
Correcteurs d'aberrations
Compléments à l'imagerie de haute résolution
Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes
Exercices et leurs solutions liste des symboles
Liste des acronymes
Définitions et valeurs de quelques grandeurs physiques

Voir tout

Replier

Caractéristiques techniques

	PAPIER
Éditeur(s)	Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (PPUR)
Auteur(s)	Claude Esnouf
Collection	Metis Lyon Tech
Parution	01/09/2011
Nb. de pages	580
Format	16 x 24
Couverture	Broché
Poids	1190g
Intérieur	Noir et Blanc
EAN13	9782880748845
ISBN13	978-2-88074-884-5