La diffraction cohérente des rayons x

Jacques-V - Collection Omn.univ.europ.

272 pages, parution le 26/07/2010

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QUANTITÉ

Résumé

La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matière dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l''espace réel à l''aide d''algorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut être appliquée à l''étude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent être reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent être tirées, à travers l''étude de défauts de phase de structures électroniques dans des systèmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdène K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systèmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées à la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modèles théoriques sont proposés.

Caractéristiques techniques

	PAPIER
Éditeur(s)	Editions universitaires européennes
Auteur(s)	Jacques-V
Collection	Omn.univ.europ.
Parution	26/07/2010
Nb. de pages	272
Format	15.2 x 22.9
Couverture	Broché
Poids	404g
EAN13	9786131509230