Analyse des images en métrologie optique par ondelettes

Bahich-M - Collection Omn.univ.europ.

120 pages, parution le 01/04/2018

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QUANTITÉ

Résumé

Les contraintes industrielles de réalisation de plus en plus sévères nécessitent fréquemment des techniques de mesure et de contrôle. Les méthodes de métrologie optique permettent le contrôle non destructif d'une grande variété de paramètres (déformations, déplacements...), avec une très haute précision. Le calcul de phase est une technique de mesure performante qui permet la reconstruction d'images 3D à partir d'interférogrammes d'intensité. Ce travail s'articule autour de l'extraction de phase à partir d'un seul interférogramme sans porteuse spatiale en utilisant la technique des ondelettes. Nous présentons ici des algorithmes de calcul de phase basés sur le décalage numérique de phase et la superposition numérique de la porteuse spatiale. Le choix s'est porté ensuite sur les transformées en ondelettes continues mono et bidimensionnelle qui donnent accès à la distribution de phase à travers une analyse locale des images d'intensité. Une évaluation, en été faite, a permis de valider et de confirmer la performance des algorithmes proposés. Le principal avantage de ces techniques est de pouvoir offrir une solution de métrologie adaptée au besoin des analyses dynamiques.

Caractéristiques techniques

	PAPIER
Éditeur(s)	Editions universitaires européennes
Auteur(s)	Bahich-M
Collection	Omn.univ.europ.
Parution	01/04/2018
Nb. de pages	120
Format	15.2 x 22.9
Couverture	Broché
Poids	188g
EAN13	9783841788009