Les Design Patterns en Java
Les 23 modèles de conception fondamentaux - L'expertise ultime en conception Java
Steven John Metsker, William C. Wake - Collection Référence
Résumé
Par son approche pratique fondée sur de nombreux exemples d'application, Design Pat-terns en Java vous amène à une compréhension approfondie des patterns de conception, condition sine qua non pour tirer le meilleur parti de leur puissance dans le développement d'applications en Java. Ce document révolutionnaire introduit les fonctionnalités les plus récentes de Java et les meilleures pratiques aux 23 patterns.
Forts de leur grande expérience en tant qu'instructeurs et programmeurs Java, Steve Metsker et William Wake vous éclaireront sur chaque pattern, au moyen de programmes Java réels, de diagrammes UML et d'exercices clairs et pertinents. Vous passerez rapidement de la théorie à l'application en apprenant comment écrire un meilleur code ou restructurer du code existant pour le rationaliser, le rendre plus performant et plus facile à maintenir.
Si vous êtes un programmeur Java désireux de gagner du temps grâce à l'écriture d'un code plus efficace, les explications lumineuses de cet ouvrage, étayées de nombreux exemples, conseils et techniques vous aideront à y parvenir. Vous maîtriserez la puissance des patterns et améliorerez vos programmes, tant en matière de conception que d'écriture et de maintenance du code.
Tout le code source est disponible au téléchargement sur le site www.oozinoz.com.
L'auteur - Steven John Metsker
Steven John Metsker is a researcher and author who
explores and writes about ways to expand the abilities of
developers. Steve's published work includes articles that
explain how to maintain relational integrity in object
models, how to solve logic puzzles in Java, and how the
conception of "object" differs between Plato and the OO
languages.
L'auteur - William C. Wake
has been programming for more than twenty years at companies including Capital One Financial, MCI WorldCom, VTLS Inc., and Digital Equipment Corporation. He is a regular attendee of OOPSLA, and co-author (with Stephen Drye) of Java Foundation Classes: Swing Reference (Manning Publications, 1999). Extreme Programming Explored grew out of the questions he had while taking the first XP Immersion course
Sommaire
- Préface
- Introduction
- Patterns d'interface
- Patterns de responsabilité
- Patterns de construction
- Patterns d'opération
- Patterns d'extension
- Annexes
- Glossaire
- Bibliographie
- Index
Avis des lecteurs
publié le 21/03/2009 Acheteur vérifié
Livre à trous
L'idée de départ est plutôt bonne : tirer partie des design patterns dans un cas concret (une usine de feux d'artifice). Malheureusement à force de vouloir proposer des exercices les auteurs proposent un livre à trous. Un exemple : le chapitre Factory Method ne contient quasiment pas de code, pas d'explication et des schémas UML à compléter. Résultat : si on ne connaît pas déjà le pattern il est impossible de comprendre comment le mettre en oeuvre. Bref un livre qui ne peut servir ni de référence ni de cours. Ce n'est pas non plus pour autant un livre d'exercices.
publié le 20/09/2006 Acheteur vérifié
Un ouvrage imbitable...
La structure binaire : un commentaire, une question, un commentaire, une question... il faut aimer. Sauf qu'ici, à moins de connaître déjà les patterns, il n'est pas toujours facile d'y répondre (les réponses sont en fin d'ouvrage). Cela d'autant plus que le code en exemple fait référence à des classes qu'il faut télécharger... sinon il faut les deviner. Reste que cela pourrait être un bon support de cours... s'il était bien traduit. Alors que l'on manipule des abstractions qui nécessiteraient une vraie traduction en français, ici nous avons une traduction pratiquement mot à mot, pleine de répétitions... Cet ouvrage est beaucoup trop émietté, et très mal traduit. À déconseiller.
Caractéristiques techniques
| PAPIER | |
| Éditeur(s) | Campus Press |
| Auteur(s) | Steven John Metsker, William C. Wake |
| Collection | Référence |
| Parution | 23/08/2006 |
| Nb. de pages | 434 |
| Format | 18,5 x 23 |
| Couverture | Broché |
| Poids | 897g |
| Intérieur | Noir et Blanc |
| EAN13 | 9782744020995 |
| ISBN13 | 978-2-7440-2099-5 |
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